R&D

연구소

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연구 개발 사업화

신기술 및 know-how를 바탕으로 국책 및 국내 유수 업체와 협약을 통한 연구 개발
개발 사업명 및 내용 사업기관 비고
디스플레이 드라이버 IC 테스트 핸들러 개발 D사와 공동 진행 상품화 및 사업화 성공
고효율 전력절감형 Power Management IC 개발 T사와 공동 진행
가속센서 IC의 Wafer 및 Package Test 기술 개발 직접 개발
전력용 트랜지스터의 효율적인 테스트를 위한 척 구조 개발 직접 개발
IR Blaster用 리모콘 제어 IC 개발 1,2차 진행 A사와 공동 진행
CIS Package Test 개발 직접 개발

보유기술

Taiko Chuck
기존 Chuck
Taiko Chuck Type 1
  • Test House 최초 8inch용 Chuck 개발을 통한 Discrete 제품군 특정 항목 특성 Uniformity 확보
  • 100 um 수준의 Thin Wafer Handling 및 Test 기술 보유
AVT (Auto Visual Test)

AVT 테스트는 CLCC / PLCC / CSP / BGA Type 등 CMOS Image Sensor 의 기존 육안검사를 Tester 장비를 이용 자동화 함으로 효율적이고 신뢰성 있는 Test service 가 가능하도록 고객의 Device 에 맞추어 다음과 같이 설계 공급 하고 있습니다.

  • Load Board Hardware Design
  • Test Program 개발
  • Test Socket 설계 및 공급
  • Handler Change Over-kit 설계 및 공급
[ AVT ]
[ L/B & Socket ]

분야별 연락처

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